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    中村分享REVOX推出微米級別劃痕自動檢測裝置

    更新時間:2024-02-02      瀏覽次數(shù):498

    光源裝置/圖像計測裝置廠家REVOX(相模原市)開發(fā)出一款以微米(um)為單位的自動檢出裝置“Makros-Cf"。該裝置憑借共焦點顯微鏡裝置可自動檢出對象物的傷痕、劃痕等缺陷。

    在對有機EL Display等大型產(chǎn)品的表面高速捕捉、讀取圖像后,可自動分析出來傷痕的大小、深度等。

    該產(chǎn)品采用特殊的光學Sensor,通過光的變化識別傷痕,通過共焦點鏡頭測定傷痕的大小、形狀、深度。即使復雜的劃痕、傷痕也可**到微米(um)進行測量、通過連接LAN電腦,將傷痕圖像擴大顯示。

    以往的檢查機僅會進行整體圖像檢查,顯示傷痕的位置。檢查工程的省力化、時間縮短。

    采用特殊構造,可吸收測定臺在測定對象在移動時的產(chǎn)品震動,在半導體等檢查、不打亂無塵室內(nèi)的空氣流進行清潔、維護有優(yōu)勢。

    已經(jīng)有銷售到半導體、汽車、馬達、醫(yī)療器械等領域。


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